Software
Controlled
Event
Pattern
Test
Unit
absolute
Ereignis-
Zeit
TDC
+
Scaler
Daten-Stack
Bit-Muster
+
Zeit
A C C
CES 2180
Starburst
Prozessor
L S I
11/73
VAX
CAMAC
A D C
12
Einheiten
Front−end
Elektronik
190
ASTERIX
Karten
512 Haupt-Detektor Module
96 Anti-Zähler Module
136 Shield-Detektor Module
Tro
Tor
ΣE, m
ST
SL , SR
SU , SD
AT, AB
AL, AR
valid-event
fast-clear
Reset
Konversion
MLU
TRIP
⇒
⇐
Trigger−
Logik
Kalibration und Test
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